Materiais do pino da sonda

A Probe Materials oferece soluções de fios de metais preciosos projetadas para testes de semicondutores e aplicações de detecção de precisão. Compostos por sistemas de liga à base de paládio e{1}}platina, esses materiais são fabricados por meio de processos de refino de alta-pureza e trefilação de precisão. Eles combinam condutividade elétrica confiável e inércia química com sólida durabilidade mecânica, incluindo retorno elástico e resistência ao desgaste. Seja suportando alto-ciclo de classificação de wafer e teste final ou operando em ambientes corrosivos e de alta-temperatura, nossos materiais de sonda mantêm resistência de contato estável e integridade de sinal, atendendo aos requisitos de consistência de material de aplicações de teste e medição.

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Principais Produtos

Fio de liga de paládio

Características

Nossos materiais de pino de sonda equilibram a transmissão elétrica com a resistência à fadiga mecânica, proporcionando desempenho de contato estável para testes de alta-frequência e condições operacionais complexas.

Resistência de contato estável
Resistente à fadiga e ao desgaste
Estabilidade térmica e química

Alta pureza e tolerâncias restritas
Boa elasticidade-de retorno e formabilidade
Ligas e diâmetros personalizáveis

Propriedades dos materiais do pino da sonda

Categoria	Descrição
Sistemas Materiais	Sonda de metais preciosos e materiais de fio para testes de precisão
Formulários de produto	Fios redondos de precisão e perfis personalizados
Sistemas de liga	Fios de liga de paládio e fios de liga à base de{{0}platina
Desempenho	Propriedades de contato estáveis com resistência e ductilidade equilibradas
Controle Dimensional	Formação de precisão com tolerâncias controladas
Formato de Fornecimento	Tamanhos padrão e dimensões de fio personalizadas

Aplicações de materiais de pinos de sonda em vários setores

Classificação de wafer (teste de CP):Usado para placas de sonda wafer de passo-fino que exigem ruído ultra-baixo, alta estabilidade e longa vida útil da sonda.
Teste Final (Teste FT):Aplicado em pinos de teste para pacotes IC avançados (BGA, QFN, CSP), capazes de suportar milhões de inserções de{0}ciclo alto.
Sondas de-alta frequência e micro{1}}:Componentes condutores principais para pinos de teste de RF, sondas de alta-corrente e módulos de sonda de precisão.
Sensor-de alta temperatura:Termopares-de alta temperatura, fios RTD e cabos de sensores operando em ambientes rigorosos.
Instrumentos de precisão e médicos:Sondas eletroquímicas, eletrodos de precisão de laboratório e componentes de detecção médica de alta-precisão.